当前位置:无锡市金义博仪器科技有限公司>>产品展示>>X荧光光谱仪
一、概述X荧光分析技术是一种常规分析手段,开始于20世纪50年代初,经历了50多年的不断发展,现在已成为物质组成分析的方法之一
适用范围:可对各类材料成分除碳元素(C)外的其它元素进行定性及及定量分析,包括对其它同类仪器难以分析的Mg、Al、Si、S、P、Mn等元素也有较好的表现
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,仪表网对此不承担任何保证责任。
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。